直讀光譜儀與X熒光光譜儀是兩款原理不同，但是均可應用于樣品的含量分析檢測上，那廠家在選購一款合適自己產品前，對兩款產品的原理多了解一分，就能選購更適合自己的檢測儀器。

       X熒光光譜儀的結構原理

       當X射線打到待測樣品上，樣品中含那種元素會散發出特征X熒光，（原子中的電子都在一個個電子軌道上運行，而每個軌道的能量都是一定的，叫能級。內層軌道能級較低，外層軌道能級較高，當內層的電子受到X射線激發，有足夠的能量跳出內層軌道，那么，較外層的電子躍遷到內層的軌道進行補充，由于是從高能級上跳往低能級上，所以會釋放出能量，其能量以光的形式放出，這就是特征X射線）通過探測器放大處理特征X熒光，分析出那種元素，每種元素的特征X熒光強度正比于樣品中該元素的含量，通過內部預先存儲的校正曲線可測定其含量，并直接以百分比濃度顯示出來。

X熒光光譜儀的檢測臺

直讀光譜儀的檢測臺

       直讀光譜儀的結構原理

       樣品通過電弧或火花放電激發生成原子蒸氣，該蒸氣中的原子與離子被激發后產生發射光譜。發射光譜通過光導纖維進入到光譜儀的分光室中，色散成各光譜波段。根據每個元素發射的波長范圍，通過光電倍增管（或電感耦合檢測器）可以測量出每個元素的ZUI佳譜線。每種元素的發射光譜譜線強度正比于樣品中該元素的含量，通過內部預先存儲的校正曲線可測定其含量，并直接以百分比濃度顯示出來。